激光掃描顯微鏡用于生物和材料科學(xué)研究，以獲得樣品的高分辨率、高對比度圖像。激光顯微鏡可以逐點掃描樣品，從而產(chǎn)生可用于構(gòu)建準確3D圖像的光學(xué)切片。
我們的激光掃描共聚焦顯微鏡設(shè)計有多種成像模式，可以應(yīng)對生命科學(xué)和材料科學(xué)領(lǐng)域的一些艱巨的挑戰(zhàn)。
我們的激光掃描顯微鏡靈敏度高、速度快，可實現(xiàn)活細胞成像、深層組織觀察以及準確的樣品測量和分析?？梢詮囊幌盗羞m合各種科學(xué)應(yīng)用的激光掃描系統(tǒng)中進行選擇，這些應(yīng)用包括癌癥研究和發(fā)育生物學(xué)研究領(lǐng)域的生物樣品成像，以及冶金表面粗糙度評估和電子產(chǎn)品（如半導(dǎo)體和EV電池）的質(zhì)量檢測。奧林巴斯擁有滿足您特定共聚焦顯微鏡需求的解決方案。
用于材料分析的激光顯微鏡
智能工作流程，更快地完成實驗
OLS5100激光顯微鏡專為失效分析和材料工程研究而設(shè)計，將出色的測量精度和光學(xué)性能與智能工具相結(jié)合，使顯微鏡使用起來更加方便。它可以快速高效完成亞微米級形貌和表面粗糙度的精確測量，不僅簡化了工作流程，還能提供值得信賴的數(shù)據(jù)。
LEXT顯微鏡物鏡可提供高度準確的測量數(shù)據(jù)。與Smart Lens Advisor（智能鏡頭顧問）配合使用，可以獲得值得信賴的準確數(shù)據(jù)。
有保證的測量準確度
10倍至100倍物鏡可減少405 nm波長的像差，在整個視場中捕捉樣品的真實形貌。
Smart Lens Advisor（智能鏡頭顧問）有助于為粗糙度測量選擇合適的物鏡
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傳統(tǒng)物鏡很難在邊緣區(qū)域進行準確測量 專用的LEXT物鏡可準確測量邊緣區(qū)域。
通過精心設(shè)計的軟件，新手和有經(jīng)驗的用戶都可以輕松使用顯微鏡。
輕松獲取準確數(shù)據(jù)：將樣品放在載物臺上，然后按下“開始”按鈕即可
在客戶的實驗環(huán)境下也能提供有保證的測試結(jié)果*。
本網(wǎng)頁上的信息（包括保證的準確度）均基于Evident設(shè)定的條件。
智能實驗管理器可將以前耗時的任務(wù)自動化，使亞微米級3D觀察和失效分析實驗工作流程變得更加簡單。
利用宏功能實現(xiàn)分析工作流程的自動化
測量數(shù)據(jù)易于整理
將數(shù)據(jù)自動填充到實驗計劃矩陣中，減少了輸入錯誤的幾率
測量結(jié)果以列表形式顯示，一眼就能做出通過/不通過的判斷。
從校準到培訓(xùn)，我們提供各種服務(wù)組合，幫助您的設(shè)備保持出色的性能。Evident的服務(wù)合同：
簡單明了 — 讓您專注于核心業(yè)務(wù)
高效服務(wù) — 我們可為您安排預(yù)防性維護，包括校準
高性價比 — 在整個合同期內(nèi)為您節(jié)省成本
| 型號 | OLS5100-SAF | OLS5100-SMF | OLS5100-LAF | OLS5100-EAF | |
|---|---|---|---|---|---|
| 綜合倍率 | 54x ～ 17280x | ||||
| 視場 | 16 μm ～ 5,120 μm | ||||
| 測量原理 | 光學(xué)系統(tǒng) |
反射型共聚焦激光掃描（激光）顯微鏡 反射型共聚焦激光掃描（激光-DIC）顯微鏡 彩色 彩色-DIC | |||
| 測量原理 | 光接收元件 |
激光：光電倍增管（2通道） 彩色：CMOS彩色相機 | |||
| 高度測量 | 顯示分辨率 | 0.5 nm | |||
| 高度測量 | 動態(tài)范圍 | 16位 | |||
| 高度測量 | 可重復(fù)性σn-1*1 *2 *5 | 5X：0.45μm，10X：0.1μm，20X：0.03μm，50X：0.012μm，100X：0.012μm | |||
| 高度測量 | 準確度 *1 *3 *5 | 0.15 + L/100 μm（L：測量長度[μm]） | |||
| 高度測量 | 拼接圖像準確度 *1 *3 *5 | 10X：5.0+L/100 μm；20X或更高：1.0+L/100 μm（L：拼接長度[μm]） | |||
| 高度測量 | 測量噪聲（Sq噪聲） *1 *4 *5 | 1 nm（典型值） | |||
| 寬度測量 | 顯示分辨率 | 1 nm | |||
| 寬度測量 | 可重復(fù)性3σn-1*1 *2 *5 | 5X：0.4μm，10X：0.2μm，20X：0.05μm，50X：0.04μm，100X：0.02μm | |||
| 寬度測量 | 準確度 *1 *3 *5 | 測量值+/- 1.5% | |||
| 寬度測量 | 拼接圖像準確度 *1 *3 *5 | 10X：24+0.5L μm；20X：15+0.5L μm；50X：9+0.5L μm；100X: 7+0.5L μm（L：拼接長度[mm]） | |||
| 單次測量時最大測量點數(shù)量 | 4096 × 4096像素 | ||||
| 最大測量點數(shù)量 | 3600萬像素 | ||||
| XY載物臺配置 | 長度測量模塊 | ? | 不適用 | 不適用 | ? |
| XY載物臺配置 | 工作范圍 | 100 × 100 mm電動 | 100 × 100 mm 手動 | 300 × 300 mm 電動 | 100 × 100 mm 電動 |
| 最大樣品高度 | 100 mm | 40 mm | 37 mm | 210 mm | |
| 激光光源 | 波長 | 405 nm | |||
| 激光光源 | 最大輸出 | 0.95 mW | |||
| 激光光源 | 激光分類 | 2類（IEC60825-1：2007，IEC60825-1：2014*6 | |||
| 彩色光源 | 白光LED燈 | ||||
| 電氣功率 | 240 W | 240 W | 278 W | 240 W | |
| 質(zhì)量 | 顯微鏡主體 | 約重31 kg | 約重32 kg | 約重50 kg | 約重43 kg |
| 質(zhì)量 | 控制盒 | 約重12 kg | |||
*1 在ISO554(1976)、JIS Z-8703(1983)規(guī)定的恒溫恒濕環(huán)境中使用時可達到規(guī)格要求（溫度：20℃±1℃，濕度：50％±10%）。
*2 在使用MPLAPON LEXT系列物鏡且放大倍率為20倍或更高時。
*3 在使用專用LEXT物鏡測量時。
*4 在使用MPLAPON100XLEXT物鏡測量時的典型值，可能與保證值不同。
*5 在Evident認證體系下有保證。
*6 OLS5100是2類激光產(chǎn)品。請勿盯著光束看。
** Evident提供的顯微鏡控制器已獲得Window 10操作系統(tǒng)許可證。因此，Microsoft的許可條款適用，并且您要同意這些條款。請參閱以下Microsoft的許可條款。
https://www.microsoft.com/en-us/Useterms/Retail/Windows/10/UseTerms_Retail_Windows_10_english.htm
| 系列 | 型號 | 數(shù)值孔徑（NA） | 工作距離（WD）（mm） |
|---|---|---|---|
| UIS2物鏡 | MPLFLN2.5X | 0.08 | 10.7 |
| MPLFLN5X | 0.15 | 20 | |
專用LEXT物鏡（10X） | MPLFLN10XLEXT | 0.3 | 10.4 |
專用LEXT物鏡（高分辨率） | MPLAPON20XLEXT | 0.6 | 1 |
| MPLAPON50XLEXT | 0.95 | 0.35 | |
| MPLAPON100XLEXT | 0.95 | 0.35 | |
專用LEXT物鏡（長工作距離型） | LMPLFLN20XLEXT | 0.45 | 6.5 |
| LMPLFLN50XLEXT | 0.6 | 5.2 | |
| LMPLFLN100XLEXT | 0.8 | 3.4 | |
| 超長工作距離物鏡 | SLMPLN20X | 0.25 | 25 |
| SLMPLN50X | 0.35 | 18 | |
| SLMPLN100X | 0.6 | 7.6 | |
| 長工作距離LCD物鏡 | LCPLFLN20XLCD | 0.45 | 8.3-7.4 |
| LCPLFLN50XLCD | 0.7 | 3.0-2.2 | |
| LCPLFLN100XLCD | 0.85 | 1.2-0.9 |
| 標準軟件 | OLS51-BSW | |||
|---|---|---|---|---|
| 標準軟件 | 數(shù)據(jù)采集應(yīng)用程序 | 分析應(yīng)用程序（簡單分析） | ||
| 電動載物臺軟件包應(yīng)用程序*1 | OLS50-S-MSP | |||
| 高級分析應(yīng)用程序*2 | OLS50-S-AA | |||
| 薄膜厚度測量應(yīng)用程序 | OLS50-S-FT | |||
| 自動邊緣測量應(yīng)用程序 | OLS50-S-ED | |||
| 顆粒分析應(yīng)用程序 | OLS50-S-PA | |||
| 實驗流輔助應(yīng)用程序 | OLS51-S-ETA | |||
| 球體/圓柱體表面角度分析應(yīng)用程序 | OLS50-S-SA | |||
*1 包括自動拼接數(shù)據(jù)采集和多區(qū)域數(shù)據(jù)采集功能。
*2 包括輪廓分析、差值分析、臺階高度分析、表面分析、面積/體積分析、線粗糙度分析、面粗糙度分析和直方圖分析。
OLS5100-SAF配置示例
OLS5100-SAF
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OLS5100-EAF
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OLS5100-SMF
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OLS5100-LAF
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